Mở trên lập trình IC thử nghiệm ổ cắm nhiệt độ cao cho thử nghiệm bán dẫn

Premium Open Top Burn-In & Programming Test Socket cho thử nghiệm bán dẫn đòi hỏi

Được thiết kế cho độ tin cậy trong môi trường nhiệt độ cao (lên đến 130 ° C +), ổ cắm thử nghiệm đốt cháy của chúng tôi đảm bảo hiệu suất nhất quán trong các chu kỳ lập trình và thử nghiệm IC kéo dài.

• Cấu hình tùy chỉnh để phù hợp với gói IC cụ thể của bạn (BGA, QFN, CSP, vv)
• Xây dựng mạnh mẽ cho các lần chèn/khai ra lặp đi lặp lại mà không bị mòn
• Tối ưu hóa cho tích hợp thiết bị thử nghiệm tự động (ATE)

Lý tưởng cho các nhà sản xuất bán dẫn, phòng thí nghiệm thử nghiệm và cơ sở R & D đòi hỏi độ chính xác và tuổi thọ.

Dưới đây làcác thông số kỹ thuật thiết yếucác kỹ sư đánh giá khi lựa chọn các ổ cắm thử nghiệm cho độ tin cậy và thông lượng tối đa:

Khung thử nghiệm IC mở trên tùy chỉnh: Thông số kỹ thuật cơ bản

Đối tác đáng tin cậy của bạn cho các giải pháp ổ cắm IC chính xác

Tại Sireda, chúng tôi giao hàngcác giải pháp ổ cắm thử nghiệm từ đầu đến cuốiTừ các mô hình tiêu chuẩn có khối lượng lớn đến các cấu hình hoàn toàn tùy chỉnh được thiết kế cho các yêu cầu chính xác của bạn.

Các giải pháp tiêu chuẩn sẵn sàng triển khai ngay lập tức:
✔Các ổ cắm BGA phẳng(0,3mm ∼1,5mm tùy chọn độ cao)
✔Các ổ cắm QFN/LGA có hồ sơ thấpvới hệ điều khiển zero-insertion-force (ZIF)
✔Các ổ cắm tốc độ cao / RF(DC đến 70GHz với mất tín hiệu tối thiểu)
✔Các ổ cắm quan trọng cho nhiệm vụcho môi trường đốt cháy, ô tô và MIL-STD

Chúng ta hãy thiết kếgiao diện tối ưu giữa IC của bạn và thiết bị thử nghiệmHãy liên hệ với nhóm của chúng tôi ngay hôm nay để xem xét dự án không có nghĩa vụ.