|
سوکت‌های تست IC ATE با چرخه بالا، عملکردی بادوام برای تست‌های تولیدی پر تقاضا
| موق: | 1 |
| قیمت: | Get Quote |
سوکت‌های تست IC ATE,سوکت‌های تست IC با چرخه بالا,سوکت تست ATE
,High Cycle IC Test Sockets
,ATE testing socket
ماسوکت های IC را خوردمهندسی دقیق برایتست حافظه پر سرعت، از جملهDDR5 و LPDDR5 ICS، حصولیکپارچگی سیگنال با سرعت چند گیگاهریبشر ساخته شده برایتجهیزات تست خودکار (ATE)، این سوکت های ناهموار تحویل می دهندکمرنگ فوق العاده کم ، ناچیز متقاطع و امپدانس پایدار-بحرانی برایمراکز داده ، شتاب دهنده های هوش مصنوعی و اعتبارسنجی حافظه نسل بعدیبشر
- دوام برتر- ساخته شده برای آزمایش چرخه بالا با مواد قوی که در برابر هزاران درج مقاومت می کنند
- سازگاری گسترده- از BGA ، QFN ، SOP و سایر بسته های IC پشتیبانی می کند
- فناوری تماس دقیق- پروب های بهاری با مقاومت کم یا پین های POGO برای اتصالات الکتریکی قابل اعتماد
- تنظیمات سفارشی- وسایل تست مناسب برای طرح های منحصر به فرد IC و الزامات آزمایش
- گزینه های حرارتی و با فرکانس بالا-سوکت های تخصصی برای آزمایش سوختگی ، فشار بالا و RF
برای گزینه های بیشتر یا درخواست های سفارشی ، جزئیات زیر را ببینید یا با مهندسان ما در تماس باشید.
| دارایی | پارامتر | ارزش معمولی |
|---|---|---|
| مکانیکی | چرخه درج | چرخه های ≥30k-50k |
| نیروی تماس | 20-30 گرم در پین | |
| دمای عملیاتی | تجاری -40 ~ +125 ارتش -55 ~ +130 |
|
| تحمل | 0.01 میلی متر | |
| برق | مقاومت در برابر تماس | <50mΩ |
| امپدانس | 50Ω (5 ±)) | |
| جاری | 1.5a ~ 3a |
این که آیا شما در حال تأیید نمونه های اولیه ، برنامه نویسی ICS یا انجام آزمایشات تولید با حجم بالا هستید ، سوکت های تست سفارشی ما از صحت و تکرارپذیری اطمینان می دهند. سوکت های ما که برای محیط های چالش برانگیز طراحی شده اند ، دارای طرح های مکانیکی قوی برای جلوگیری از پیچ و تاب تحت فشار حرارتی و در عین حال مقاومت در برابر تماس پایدار هستند. سازگار با دستگیرندگان و آزمایش کنندگان خودکار ، آنها هنگام قطع زمان ، روند اعتبار سنجی شما را ساده می کنند.
