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Sockets de test CI ATE à cycle élevé : performances durables pour les tests de production exigeants

Sockets de test CI ATE à cycle élevé : performances durables pour les tests de production exigeants

MOQ: 1
Le Prix: Get Quote
Informations détaillées
Lieu d'origine
CHINE
Nom de marque
Sireda
Certification
ISO9001
Numéro de modèle
Top
Pas:
≥0.3mm
Comptage des broches:
2-2000 +
Packages compatibles::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Type de socket:
Top
Type de conducteur:
Broches de sonde, broche pogo, PCR
Caractéristiques:
Très personnalisable
Mettre en évidence:

Sockets de test CI ATE

,

Sockets de test CI à cycle élevé

,

Socket de test ATE

Description du produit
Sockets de circuits intégrés ATE à grande vitesse pour le DDR/LPDDR5 et les essais automatisés

NotreLes prises de circuits intégrés ATEsont conçus avec précision pourtests de mémoire à grande vitesse, y comprisLes circuits intégrés DDR5 et LPDDR5, en veillantintégrité du signal à des vitesses de plusieurs GHzConstruit pouréquipement d'essai automatisé (ATE), ces prises robustes livrentultra-faible inclinaison, écho croisé minimal et impédance stable--critique pourles centres de données, les accélérateurs d'IA et la validation de la mémoire de nouvelle génération.

Sockets de test CI ATE à cycle élevé : performances durables pour les tests de production exigeants 0 Sockets de test CI ATE à cycle élevé : performances durables pour les tests de production exigeants 1
Principales caractéristiques et avantages:
  • Une durabilité supérieure- Conçu pour des essais de cycle élevé avec des matériaux robustes qui résistent à des milliers d'insertions
  • Compatibilité générale- Prend en charge BGA, QFN, SOP et autres paquets IC
  • Technologie de contact de précision- sondes à ressorts à faible résistance ou épingles pour connexions électriques fiables
  • Configurations personnalisées- Équipements d'essai adaptés aux conceptions uniques des circuits intégrés et aux exigences d'essai
  • Options thermiques et à haute fréquence- Des prises spécialisées pour les tests de combustion, de température élevée et de RF

Pour plus d'options ou des demandes personnalisées, voir les détails ci-dessous ou contactez nos ingénieurs.

Sockets de test CI ATE à cycle élevé : performances durables pour les tests de production exigeants 2
Diagramme technique de la prise d'essai IC
Socket d'essai personnalisé: spécifications de base
Les biens immobiliers Paramètre Valeur typique
Les appareils électroménagers Cycles d'insertion Cycles ≥ 30K-50K
Force de contact 20 à 30 g par broche
Température de fonctionnement Commercial -40 ~ +125
Military -55 ~ +130
La tolérance ± 0,01 mm
Électricité Résistance au contact Pour les appareils à combustion
Impédance 50Ω (± 5%)
Actuel 1.5A à 3A
Solutions de prises de test IC - Tests de précision pour des applications exigeantes

Que ce soit pour valider des prototypes, programmer des circuits intégrés, ou exécuter des tests de production à grande échelle, nos prises de test personnalisées assurent précision et répétabilité.Nos prises sont dotées de conceptions mécaniques robustes pour empêcher la déformation sous contrainte thermique tout en maintenant une résistance de contact stableCompatibles avec les gestionnaires et les testeurs automatisés, ils rationalisent votre processus de validation tout en réduisant les temps d'arrêt.