|
Sockets de prueba de circuito integrado ATE de alto ciclo Rendimiento duradero para pruebas de producción exigentes
| Moq: | 1 |
| Precio: | Get Quote |
Soquetes de ensayo del circuito integrado ATE
,Soquetes de ensayo de circuito integrado de alto ciclo
,Conexión de ensayo ATE
El nuestroSoquetes de circuito integrado ATEestán diseñados con precisión parapruebas de memoria de alta velocidad, incluidoIC DDR5 y LPDDR5, garantizandointegridad de la señal a velocidades de varios GHzConstruido paraEquipo de ensayo automatizado (ATE), estas tomas robustas entreganinclinación muy baja, interferencia mínima y impedancia estable-- crítico paracentros de datos, aceleradores de IA y validación de memoria de próxima generación.
- Durabilidad superior - Construido para pruebas de alto ciclo con materiales robustos que soportan miles de inserciones
- Compatibilidad general- Soporta BGA, QFN, SOP y otros paquetes de IC
- Tecnología de contacto de precisión- sondas de resorte de baja resistencia para conexiones eléctricas fiables
- Configuraciones personalizadas- Instalaciones de ensayo adaptadas a los diseños de circuitos integrados únicos y a los requisitos de ensayo
- Opciones térmicas y de alta frecuencia- Enchufes especializados para pruebas de combustión, alta temperatura y RF
Para más opciones o solicitudes personalizadas, vea los detalles a continuación o póngase en contacto con nuestros ingenieros.
| Propiedad | Parámetro | Valor típico |
|---|---|---|
| Mecánica | Ciclos de inserción | Ciclos ≥ 30K-50K |
| Fuerza de contacto | 20 a 30 g/pin | |
| Temperatura de funcionamiento | Comercial -40 ~ +125 Militar -55 ~ +130 |
|
| Las normas de seguridad | ± 0,01 mm | |
| Eléctrico | Resistencia de contacto | Se aplican las siguientes medidas: |
| Impedancia | 50Ω (± 5%) | |
| En la actualidad | 1.5A ~ 3A |
Ya sea que esté validando prototipos, programando circuitos integrados, o ejecutando pruebas de producción de gran volumen, nuestras tomas de prueba personalizadas aseguran precisión y repetibilidad.Nuestros enchufes cuentan con diseños mecánicos robustos para evitar la deformación bajo tensión térmica mientras se mantiene la resistencia de contacto estableCompatibles con los controladores y probadores automatizados, agilizan su proceso de validación y reducen el tiempo de inactividad.
