|
ซ็อกเก็ตทดสอบ IC ATE รอบสูง ประสิทธิภาพยาวนานสำหรับการทดสอบการผลิตที่ต้องการ
| MOQ: | 1 |
| ราคา: | Get Quote |
ซ็อกเก็ตทดสอบ IC ATE
,ซ็อกเก็ตทดสอบ IC รอบสูง
,ซ็อกเก็ตทดสอบ ATE
ของเราโซกิต ATE ICได้ถูกออกแบบให้มีความแม่นยําการทดสอบความทรงจําความเร็วสูงรวมถึงIC DDR5 และ LPDDR5การประกันความสมบูรณ์แบบของสัญญาณที่ความเร็วหลายGHzสร้างขึ้นเพื่ออุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติ (ATE)โซกิตที่แข็งแรงเหล่านี้ส่งความสับสนต่ําสุด, ความสับสนต่ําสุด, และอุปสรรคที่มั่นคง--สําคัญสําหรับศูนย์ข้อมูล เครื่องเร่ง AI และการตรวจสอบความจํารุ่นใหม่.
- ความทนทานสูง- สร้างขึ้นเพื่อการทดสอบระยะยาว ด้วยวัสดุที่แข็งแกร่ง ที่ทนต่อการใส่พันๆ ครั้ง
- ความเหมาะสมทั่วไป- รองรับ BGA, QFN, SOP และแพคเกจ IC อื่น ๆ
- เทคโนโลยีการติดต่อแม่นยํา- โซนสปริงความต้านทานต่ํา หรือปิ้นโปโก้ สําหรับการเชื่อมต่อไฟฟ้าที่น่าเชื่อถือ
- การตั้งค่าตามความต้องการ- อุปกรณ์ทดสอบที่เหมาะสมกับการออกแบบ IC และความต้องการการทดสอบที่แตกต่างกัน
- ตัวเลือกความร้อนและความถี่สูง- ซ็อตเชี่ยวชาญสําหรับการทดสอบการเผาไหม้ใน, ความร้อนสูง, และ RF
สําหรับตัวเลือกเพิ่มเติมหรือคําขอที่กําหนดเอง ดูรายละเอียดด้านล่าง หรือติดต่อกับวิศวกรของเรา
| อสังหาริมทรัพย์ | ปริมาตร | ค่าเฉพาะ |
|---|---|---|
| เครื่องจักรกล | วงจรการใส่ | วงจร ≥30K-50K |
| กองกําลังติดต่อ | 20-30 กรัม/ปิน | |
| อุณหภูมิการทํางาน | การค้า -40 ~ +125 ทหาร -55 ~ +130 |
|
| ความอดทน | ± 0.01 มม. | |
| เครื่องไฟฟ้า | ความต้านทานต่อการสัมผัส | < 50mΩ |
| อุปสรรค | 50Ω (±5%) | |
| ปัจจุบัน | 1.5A~3A |
ไม่ว่าจะเป็นการตรวจสอบต้นแบบ การเขียนโปรแกรม IC หรือการทดสอบการผลิตขนาดใหญ่ โซค็อตทดสอบที่กําหนดเองของเรา จะให้ความแม่นยําและสามารถซ้ําได้ซ็อตของเรามีการออกแบบเครื่องกลที่แข็งแกร่ง เพื่อป้องกันการบิดเบือนภายใต้ความเครียดทางอุณหภูมิรองรับกับผู้จัดการและผู้ทดสอบอัตโนมัติ พวกเขาทําให้กระบวนการรับรองของคุณเรียบง่ายในขณะที่ลดเวลาหยุดทํางาน
