|
Ổ cắm kiểm tra IC ATE chu kỳ cao Hiệu suất lâu dài cho các bài kiểm tra sản xuất khắt khe
| MOQ: | 1 |
| Giá cả: | Get Quote |
Ổ cắm kiểm tra IC ATE
,Ổ cắm kiểm tra IC chu kỳ cao
,Ổ cắm kiểm tra ATE
Của chúng tôiĂn ic ổ cắmđược thiết kế chính xác choKiểm tra bộ nhớ tốc độ cao, bao gồmDDR5 và LPDDR5 ICS, đảm bảoTính toàn vẹn tín hiệu ở tốc độ đa GHz. Được xây dựng choThiết bị kiểm tra tự động (ATE), những ổ cắm chắc chắn này cung cấpđộ lệch cực thấp, nhiễu xuyên âm tối thiểu và trở kháng ổn định-Cao nguyên choTrung tâm dữ liệu, máy gia tốc AI và xác thực bộ nhớ thế hệ tiếp theo.
- Độ bền vượt trội- Được xây dựng để kiểm tra chu kỳ cao với các vật liệu mạnh mẽ chịu được hàng ngàn chèn
- Khả năng tương thích rộng- Hỗ trợ BGA, QFN, SOP và các gói IC khác
- Công nghệ liên lạc chính xác- Đầu dò lò xo hoặc ghim POGO cho các kết nối điện đáng tin cậy
- Cấu hình tùy chỉnh- Đồ đạc thử nghiệm phù hợp cho các thiết kế và yêu cầu kiểm tra IC duy nhất
- Các tùy chọn nhiệt và tần số cao-Các ổ cắm chuyên dụng để kiểm tra đốt cháy, nhiệt độ cao và RF
Để biết thêm tùy chọn hoặc yêu cầu tùy chỉnh, hãy xem chi tiết bên dưới hoặc liên lạc với các kỹ sư của chúng tôi.
| Tài sản | Tham số | Giá trị điển hình |
|---|---|---|
| Cơ học | Chu kỳ chèn | ≥30k-50k chu kỳ |
| Lực lượng tiếp xúc | 20-30g/pin | |
| Nhiệt độ hoạt động | Thương mại -40 ~ +125 Quân đội -55 ~ +130 |
|
| Sức chịu đựng | ± 0,01mm | |
| Điện | Tiếp xúc với điện trở | <50mΩ |
| Trở kháng | 50Ω (± 5%) | |
| Hiện hành | 1.5a ~ 3a |
Cho dù bạn đang xác nhận các nguyên mẫu, IC lập trình hoặc chạy thử nghiệm sản xuất khối lượng lớn, ổ cắm thử nghiệm tùy chỉnh của chúng tôi đảm bảo độ chính xác và độ lặp lại. Được thiết kế cho các môi trường đầy thách thức, ổ cắm của chúng tôi có các thiết kế cơ học mạnh mẽ để ngăn chặn sự cong vênh dưới căng thẳng nhiệt trong khi vẫn duy trì khả năng tiếp xúc ổn định. Tương thích với trình xử lý và người kiểm tra tự động, họ hợp lý hóa quá trình xác thực của bạn trong khi cắt thời gian chết.
