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Soquetes de Teste IC ATE de Alto Ciclo Desempenho Duradouro para Testes de Produção Exigentes
| MOQ: | 1 |
| Preço: | Get Quote |
Soquetes de Teste IC ATE
,Soquetes de Teste IC de Alto Ciclo
,Soquete de teste ATE
O nossoSoquetes de circuito integrado ATEsão de engenharia de precisão paraTeste de memória de alta velocidade, incluindoIC DDR5 e LPDDR5, assegurandointegridade do sinal a velocidades de vários GHzConstruído paraEquipamento de ensaio automatizado (ATE), estas tomadas robustas entregamultra-baixa inclinação, crosstalk mínimo e impedância estável-- crítico paraCentros de dados, aceleradores de IA e validação de memória de próxima geração.
- Durabilidade superior - Construído para testes de alto ciclo com materiais robustos que suportam milhares de inserções
- Compatibilidade geral- Suporta BGA, QFN, SOP e outros pacotes de IC
- Tecnologia de contacto de precisão- sondas de molas de baixa resistência para ligações eléctricas fiáveis
- Configurações personalizadas- Instalações de ensaio personalizadas para designs de circuitos integrados únicos e requisitos de ensaio
- Opções térmicas e de alta frequência- Soquetes especializadas para testes de queima, alta temperatura e RF
Para mais opções ou pedidos personalizados, consulte os detalhes abaixo ou entre em contato com nossos engenheiros.
| Imóveis | Parâmetro | Valor típico |
|---|---|---|
| Mecânico | Ciclos de inserção | Ciclos ≥ 30K-50K |
| Força de contacto | 20 a 30 g/pin | |
| Temperatura de funcionamento | Comércio -40 ~ +125 Militar -55 ~ +130 |
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| Tolerância | ± 0,01 mm | |
| Eletrodomésticos | Resistência ao contacto | < 50 mΩ |
| Impedância | 50Ω (± 5%) | |
| Corrente | 1.5A~3A |
Quer estejam a validar protótipos, a programar ICs, ou a executar testes de produção de grande volume, os nossos soquetes de teste personalizados garantem precisão e repetibilidade.As nossas tomadas possuem robustos desenhos mecânicos para evitar a deformação sob tensão térmica mantendo a resistência de contacto estávelCompatível com manipuladores e testadores automatizados, eles simplificam o seu processo de validação enquanto reduzem o tempo de inatividade.
