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Sottili di prova ATE IC ad alto ciclo prestazioni durature per test di produzione esigenti

Sottili di prova ATE IC ad alto ciclo prestazioni durature per test di produzione esigenti

Moq: 1
Prezzo: Get Quote
Informazioni Dettagliate
Luogo di origine
Cina
Marca
Sireda
Certificazione
ISO9001
Numero di modello
Open top
Pece:
≥0.3mm
Conteggio dei perni:
2-2000+
Pacchetti compatibili::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Tipo di presa:
Open top
Tipo di conduttore:
Pin della sonda, pin pogo, PCR
Caratteristiche:
Molto personalizzabile
Evidenziare:

Sottili di prova ATE IC

,

Sottili di prova IC ad alto ciclo

,

presa di prova ATE

Descrizione del prodotto
Sottili ad alta velocità ATE IC per DDR/LPDDR5 e test automatizzati

Il nostroSottili ATE ICsono progettati con precisione pertest di memoria ad alta velocità, compresoIC DDR5 e LPDDR5, assicurandointegrità del segnale a velocità multi-GHzCostruito perapparecchiature di prova automatizzate (ATE), queste prese robuste fornisconoper il sistema di controllo della velocità--critico perCentri dati, acceleratori di intelligenza artificiale e convalida della memoria di nuova generazione.

Sottili di prova ATE IC ad alto ciclo prestazioni durature per test di produzione esigenti 0 Sottili di prova ATE IC ad alto ciclo prestazioni durature per test di produzione esigenti 1
Caratteristiche e vantaggi principali:
  • Durabilità superiore- Costruito per test di ciclo elevato con materiali robusti che resistono a migliaia di inserimenti
  • Compatibilità generale- Supporta BGA, QFN, SOP e altri pacchetti IC
  • Tecnologia di contatto di precisione- Sonde a molla a bassa resistenza o per collegamenti elettrici affidabili
  • Configurazioni personalizzate- apparecchiature di prova su misura per i disegni unici dei circuiti integrati e le esigenze di prova
  • Opzioni termiche e ad alta frequenza- prese specializzate per test di combustione, alta temperatura e RF

Per ulteriori opzioni o richieste personalizzate, vedere i dettagli qui sotto o contattare i nostri ingegneri.

Sottili di prova ATE IC ad alto ciclo prestazioni durature per test di produzione esigenti 2
Diagramma tecnico della presa di prova IC
Socket di prova personalizzato: specifiche di base
Immobili Parametro Valore tipico
Meccanica Cicli di inserimento Cicli ≥ 30K-50K
Forza di contatto 20-30 g/pin
Temperatura di funzionamento Commerciale -40 ~ +125
Militare -55 ~ +130
Tolleranza ± 0,01 mm
Altri dispositivi Resistenza al contatto < 50 mΩ
Impedenza 50Ω (± 5%)
Corrente 1.5A~3A
Soluzioni per le prese di prova IC - Prova di precisione per applicazioni esigenti

Sia che stiate convalidando prototipi, programmando circuiti integrati, o eseguendo test di produzione ad alto volume, le nostre prese di prova personalizzate garantiscono precisione e ripetibilità.Le nostre prese hanno un design meccanico robusto per evitare la deformazione sotto stress termico mantenendo una resistenza al contatto stabileCompatibili con gestori e tester automatizzati, semplificano il processo di convalida riducendo i tempi di inattività.