| Moq: | 1 |
| Prezzo: | Get Quote |
Il nostroSottili ATE ICsono progettati con precisione pertest di memoria ad alta velocità, compresoIC DDR5 e LPDDR5, assicurandointegrità del segnale a velocità multi-GHzCostruito perapparecchiature di prova automatizzate (ATE), queste prese robuste fornisconoper il sistema di controllo della velocità--critico perCentri dati, acceleratori di intelligenza artificiale e convalida della memoria di nuova generazione.
Per ulteriori opzioni o richieste personalizzate, vedere i dettagli qui sotto o contattare i nostri ingegneri.
| Immobili | Parametro | Valore tipico |
|---|---|---|
| Meccanica | Cicli di inserimento | Cicli ≥ 30K-50K |
| Forza di contatto | 20-30 g/pin | |
| Temperatura di funzionamento | Commerciale -40 ~ +125 Militare -55 ~ +130 |
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| Tolleranza | ± 0,01 mm | |
| Altri dispositivi | Resistenza al contatto | < 50 mΩ |
| Impedenza | 50Ω (± 5%) | |
| Corrente | 1.5A~3A |
Sia che stiate convalidando prototipi, programmando circuiti integrati, o eseguendo test di produzione ad alto volume, le nostre prese di prova personalizzate garantiscono precisione e ripetibilità.Le nostre prese hanno un design meccanico robusto per evitare la deformazione sotto stress termico mantenendo una resistenza al contatto stabileCompatibili con gestori e tester automatizzati, semplificano il processo di convalida riducendo i tempi di inattività.