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L'échantillon doit être présenté dans un enveloppe d'un rayon d'environ 30 mm.

L'échantillon doit être présenté dans un enveloppe d'un rayon d'environ 30 mm.

MOQ: 1
Le Prix: Get Quote
Informations détaillées
Lieu d'origine
CHINE
Nom de marque
Sireda
Certification
ISO9001
Numéro de modèle
Top
Pas:
≥0.3mm
Comptage des broches:
2-2000 +
Packages compatibles::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Type de socket:
Top
Type de conducteur:
Broches de sonde, broche pogo, PCR
Mettre en évidence:

BGA162 Socket d'essai EMMC

,

BGA169 Socket d'essai EMMC

,

BGA254 Socket d'essai

Description du produit
Sockets de test eMMC à empreinte zéro haute performance pour les boîtiers BGA162, BGA169 et BGA254

Nos sockets de test à soudure directe innovants révolutionnent la validation de la mémoire eMMC grâce à leur conception d'interposeur ultra-compacte, de la taille d'une puce. En éliminant le besoin de modifications de PCB, ces sockets permettent de gagner un temps de développement précieux tout en garantissant une intégrité du signal supérieure.

Principales caractéristiques et avantages :
  • Interposeur parfait de la taille d'une puce correspondant aux empreintes exactes BAG153/BGA100/BGA162/BGA169/BGA254
  • Aucune découpe de PCB requise - conception de carte plus simple
  • Montage par soudure directe pour une capacité de test instantanée
Options de test flexibles
  • Série F standard : solution de contact simple et fiable
  • Série F1 avancée :
    • Points de test intégrés pour la surveillance du signal
    • Capacités d'analyse de la consommation d'énergie
    • Architecture conviviale pour le débogage
Fiabilité de qualité ingénierie
  • Plus de 10 000 cycles d'insertion - dépasse les normes de l'industrie
  • -40 °C à +125 °C plage de fonctionnement
  • Contacts plaqués or pour une conductivité supérieure
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L'image est fournie à titre de référence uniquement. Tous les éléments énumérés ci-dessous incluent des sockets à empreinte zéro. Veuillez nous contacter pour plus de détails

Ufs eMCP eMMC DDR LPDDR NAND
BGA254 BGA221 BGA153 BGA78 BGA200 BGA132
BGA153   BGA162 BGA96 BGA315 BGA136
    BGA169   BGA152  
    BGA100   BGA154  
    BGA254      
Comparaison des solutions F et F1
L'échantillon doit être présenté dans un enveloppe d'un rayon d'environ 30 mm. 2
Étapes d'installation :
  1. Souder l'interposeur -> carte de test
  2. Fixer le socket de test
  3. Insérer la puce et verrouiller le couvercle
L'échantillon doit être présenté dans un enveloppe d'un rayon d'environ 30 mm. 3