
Lança Soquete de Teste HAST Avançado para Testes de Confiabilidade de Semicondutores
2025-09-15
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Lançamento de Soquete Avançado de Teste HAST para Teste de Confiabilidade de Semicondutores
SHENZHEN, 15 de Setembro, [Sireda Technology Co., Ltd.] um fornecedor líder de soluções de teste de semicondutores, anunciou hoje o lançamento de seu recém-desenvolvidoSoquete HAST (teste de esforço altamente acelerado), concebidos para satisfazer os exigentes requisitos dos modernos ensaios de fiabilidade dos circuitos integrados.
A nova tomada de ensaio HAST foi concebida para funcionar em condições de stress ambiental extremas, permitindo aos clientes acelerar a qualificação do dispositivo e a verificação da fiabilidade.Ele suporta testes em130°C,85% de umidade relativa (RH), e sobambientes pressurizados (normalmente 2,3 atm)para períodos prolongados que vão desde96 a 168 horas.
Esta capacidade permite aos fabricantes de semicondutores e às instituições de investigação avaliar a durabilidade dos produtos e assegurar a conformidade com as normas do setor para aplicações de alta fiabilidade,Incluindo automóveis, aeroespacial e electrónica industrial.
"À medida que os dispositivos continuam a encolher em tamanho enquanto expandem a funcionalidade, garantir a fiabilidade a longo prazo é mais crítico do que nunca".disse [Nome Executivo], [Título] em [Nome da Empresa]."Nosso soquete de teste HAST oferece a estabilidade, precisão e repetibilidade necessárias para testes de estresse rigorosos, ajudando os clientes a reduzir o tempo de lançamento no mercado, mantendo a integridade do produto".
Os principais benefícios da tomada de ensaio HAST incluem:
Resistência a altas temperaturas e humidade.
Desempenho de contacto seguro e estável em condições de pressão.
Compatibilidade com durações de ensaio prolongadas (96~168 horas).
Projeto escalável adaptável a vários tipos de embalagens.
Com este lançamento, a Sireda continua a reforçar a sua posição de inovadora em soluções de teste de semicondutores, atendendo à crescente demanda por validação de fiabilidade em eletrónica avançada.
Para mais informações sobre a tomada de ensaio HAST e outras soluções de ensaio de semicondutores, visite www.sireda.com.
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Revolucione o Teste de Chips com Nossa Nova Estação de Trabalho de Ciclagem Térmica/Temperatura
2025-09-01
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Revolucionar o teste de chips com a nossa nova estação de trabalho de ciclo térmico/temperatura
Equipas de desenvolvimento de semicondutores, conheça a sua solução de teste de próxima geração:Estação de trabalho de ciclo térmico/temperatura¢ aUma alternativa compacta e de alta velocidade às câmaras ambientais volumosas, concebido especificamente para a verificação eficiente do chip.
Por que se contentar com testes lentos e ineficientes?
As câmaras térmicas tradicionais forçam os engenheiros a testarPCBs inteirosA redução dos níveis de temperatura industrial (de - 55°C a 150°C), perdendo tempo e energia no arrefecimento/aquecimento de componentes não críticos.Estação de trabalho de ciclo térmico dirigidamuda o jogo aplicando temperaturas extremasApenas para o chip em ensaio (DUT)acelerar a investigação e desenvolvimento e reduzir os custos.
Principais vantagens em relação às câmaras padrão
Pressão térmica de precisão somente quando necessário
Opera em:-55°C a +150°CMas só condiciona o DUT, não todo o PCB.
Elimina o ciclo térmico desnecessário de conectores, passivos e circuitos de suporte.
Taxas de rampa térmica extremamente rápidas
3×5 vezes mais rápido do que as câmaras convencionais(A transferência térmica de gás ativo garante uma estabilização rápida).
Nenhum acúmulo de geadaA tecnologia de ar seco impede a condensação, permitindo testes contínuos.
Economiza espaço e é amigável ao laboratório
Cabe numa secretária normalNão há necessidade de salas de câmara dedicadas.
Configuração instantânea para qualificação sob demanda.
Quem beneficia?
Desenhistas de IC:Verificar a fiabilidade sem esperar pela estabilização térmica completa do PCB.
Equipas de validação:Faça testes de estresse em horas, não em dias.
Startups & Academia:Alternativa acessível, de tamanho bancário para câmaras industriais.
Destaques técnicos:
Intervalo de temperatura: -55°C a +150°C
Velocidade da rampa: ± 30°C/min(ajustável)
Controle:Programável para PC através do LabVIEW/API
Impressão: 30 cm x 25 cm(cabe em espaços de laboratório apertados)
Reduzir o tempo de desenvolvimento e os custos hoje
Pára de desperdiçar energia e tempo em testes ambientais.Concentre-se no chip, não na câmara.
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