Produtos quentes PRINCIPAIS PRODUTOS
Mais Produtos
Sobre Nós.
China Sireda Technology Co., Ltd.
Sobre Nós.
Sireda Technology Co., Ltd.
Visão geral da empresaA Sireda Technology Co., Ltd, estabelecida em 2010, oferece soluções de teste de semicondutores.Nossas principais ofertasSoquete de ensaio do dispositivo semicondutorSoquete de envelhecimentotomada de combustívelSoquete de ensaio de RFdispositivo de ensaioConectores de ensaioSuporte FA do dispositivo BGAServiço de rebeldiaMilestones e certificaçõesEm 2016, conseguimos a certificação ISO9001.Em 2017, ganhamos o título de "Empresa Nacional de Alta Tecnologia".Em 2021, fomos ...
Ler mais
Falem agora.
0+
Vendas anuais
0
Anos
0%
P.C.
0+
funcionários
Nós fornecemos
O melhor serviço!
Pode contactar-nos de várias formas.
Falem agora.
telefone
86-0755-23036306
Sireda Technology Co., Ltd.

Qualidade Soquetes de ensaio IC & Conector de teste fábrica

Eventos
Últimas notícias da empresa sobre Lança Soquete de Teste HAST Avançado para Testes de Confiabilidade de Semicondutores
Lança Soquete de Teste HAST Avançado para Testes de Confiabilidade de Semicondutores

2025-09-15

.gtr-container-xyz789 { font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif; color: #333; line-height: 1.6; padding: 15px; box-sizing: border-box; max-width: 100%; overflow-x: hidden; } .gtr-container-xyz789 p { font-size: 14px; margin-bottom: 1em; text-align: left; color: #444; } .gtr-container-xyz789 strong { font-weight: bold; color: #222; } .gtr-container-xyz789 em { font-style: italic; color: #555; } .gtr-container-xyz789 .gtr-title { font-size: 18px; font-weight: bold; margin-bottom: 1.5em; color: #0056b3; /* A strong blue for industrial feel */ text-align: left; } .gtr-container-xyz789 .gtr-section-heading { font-size: 16px; font-weight: bold; margin-top: 2em; margin-bottom: 1em; color: #0056b3; text-align: left; } .gtr-container-xyz789 ul { list-style: none !important; margin: 0 !important; padding: 0 !important; margin-bottom: 1em !important; } .gtr-container-xyz789 ul li { position: relative; padding-left: 25px; margin-bottom: 0.5em; font-size: 14px; text-align: left; color: #444; } .gtr-container-xyz789 ul li::before { content: "•"; /* Custom bullet point */ position: absolute; left: 0; top: 0; color: #0056b3; /* Blue bullet */ font-size: 1.2em; line-height: inherit; } .gtr-container-xyz789 a { color: #007bff; text-decoration: none; } .gtr-container-xyz789 a:hover { text-decoration: underline; } @media (min-width: 768px) { .gtr-container-xyz789 { padding: 25px; max-width: 800px; /* Constrain width for better readability on large screens */ margin: 0 auto; /* Center the component */ } .gtr-container-xyz789 .gtr-title { font-size: 22px; } .gtr-container-xyz789 .gtr-section-heading { font-size: 18px; } } Lançamento de Soquete Avançado de Teste HAST para Teste de Confiabilidade de Semicondutores SHENZHEN, 15 de Setembro, [Sireda Technology Co., Ltd.] um fornecedor líder de soluções de teste de semicondutores, anunciou hoje o lançamento de seu recém-desenvolvidoSoquete HAST (teste de esforço altamente acelerado), concebidos para satisfazer os exigentes requisitos dos modernos ensaios de fiabilidade dos circuitos integrados. A nova tomada de ensaio HAST foi concebida para funcionar em condições de stress ambiental extremas, permitindo aos clientes acelerar a qualificação do dispositivo e a verificação da fiabilidade.Ele suporta testes em130°C,85% de umidade relativa (RH), e sobambientes pressurizados (normalmente 2,3 atm)para períodos prolongados que vão desde96 a 168 horas. Esta capacidade permite aos fabricantes de semicondutores e às instituições de investigação avaliar a durabilidade dos produtos e assegurar a conformidade com as normas do setor para aplicações de alta fiabilidade,Incluindo automóveis, aeroespacial e electrónica industrial. "À medida que os dispositivos continuam a encolher em tamanho enquanto expandem a funcionalidade, garantir a fiabilidade a longo prazo é mais crítico do que nunca".disse [Nome Executivo], [Título] em [Nome da Empresa]."Nosso soquete de teste HAST oferece a estabilidade, precisão e repetibilidade necessárias para testes de estresse rigorosos, ajudando os clientes a reduzir o tempo de lançamento no mercado, mantendo a integridade do produto". Os principais benefícios da tomada de ensaio HAST incluem: Resistência a altas temperaturas e humidade. Desempenho de contacto seguro e estável em condições de pressão. Compatibilidade com durações de ensaio prolongadas (96~168 horas). Projeto escalável adaptável a vários tipos de embalagens. Com este lançamento, a Sireda continua a reforçar a sua posição de inovadora em soluções de teste de semicondutores, atendendo à crescente demanda por validação de fiabilidade em eletrónica avançada. Para mais informações sobre a tomada de ensaio HAST e outras soluções de ensaio de semicondutores, visite www.sireda.com.
Ver Mais
Últimas notícias da empresa sobre Revolucione o Teste de Chips com Nossa Nova Estação de Trabalho de Ciclagem Térmica/Temperatura
Revolucione o Teste de Chips com Nossa Nova Estação de Trabalho de Ciclagem Térmica/Temperatura

2025-09-01

.gtr-container-abc987 { font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif; color: #333; line-height: 1.6; max-width: 800px; margin: 0 auto; padding: 20px; box-sizing: border-box; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-main { font-size: 18px; font-weight: bold; margin-bottom: 1em; text-align: left; color: #0056b3; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-section { font-size: 16px; font-weight: bold; margin-top: 1.5em; margin-bottom: 1em; text-align: left; color: #0056b3; border-bottom: 1px solid #eee; padding-bottom: 5px; } .gtr-container-abc987 p { font-size: 14px; margin: 1em 0; text-align: left; word-break: normal; overflow-wrap: normal; } .gtr-container-abc987 strong { font-weight: bold; } .gtr-container-abc987 em { font-style: italic; } .gtr-container-abc987 ul { list-style: none !important; margin: 1em 0 !important; padding: 0 !important; } .gtr-container-abc987 ul li { position: relative; padding-left: 25px; margin-bottom: 0.5em; font-size: 14px; text-align: left; } .gtr-container-abc987 ul.gtr-list-checkmark li::before { content: '✓'; position: absolute; left: 0; top: 0; color: #28a745; font-weight: bold; font-size: 16px; line-height: 1.6; } .gtr-container-abc987 ul:not(.gtr-list-checkmark) li::before { content: '•'; position: absolute; left: 0; top: 0; color: #0056b3; font-weight: bold; font-size: 16px; line-height: 1.6; } .gtr-container-abc987 img { max-width: 100%; height: auto; display: block; margin: 1em auto; } @media (min-width: 768px) { .gtr-container-abc987 { padding: 30px; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-main { font-size: 22px; margin-bottom: 1.5em; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-section { font-size: 18px; margin-top: 2em; margin-bottom: 1.2em; } } Revolucionar o teste de chips com a nossa nova estação de trabalho de ciclo térmico/temperatura Equipas de desenvolvimento de semicondutores, conheça a sua solução de teste de próxima geração:Estação de trabalho de ciclo térmico/temperatura¢ aUma alternativa compacta e de alta velocidade às câmaras ambientais volumosas, concebido especificamente para a verificação eficiente do chip. Por que se contentar com testes lentos e ineficientes? As câmaras térmicas tradicionais forçam os engenheiros a testarPCBs inteirosA redução dos níveis de temperatura industrial (de - 55°C a 150°C), perdendo tempo e energia no arrefecimento/aquecimento de componentes não críticos.Estação de trabalho de ciclo térmico dirigidamuda o jogo aplicando temperaturas extremasApenas para o chip em ensaio (DUT)acelerar a investigação e desenvolvimento e reduzir os custos. Principais vantagens em relação às câmaras padrão Pressão térmica de precisão somente quando necessário Opera em:-55°C a +150°CMas só condiciona o DUT, não todo o PCB. Elimina o ciclo térmico desnecessário de conectores, passivos e circuitos de suporte. Taxas de rampa térmica extremamente rápidas 3×5 vezes mais rápido do que as câmaras convencionais(A transferência térmica de gás ativo garante uma estabilização rápida). Nenhum acúmulo de geadaA tecnologia de ar seco impede a condensação, permitindo testes contínuos. Economiza espaço e é amigável ao laboratório Cabe numa secretária normalNão há necessidade de salas de câmara dedicadas. Configuração instantânea para qualificação sob demanda. Quem beneficia? Desenhistas de IC:Verificar a fiabilidade sem esperar pela estabilização térmica completa do PCB. Equipas de validação:Faça testes de estresse em horas, não em dias. Startups & Academia:Alternativa acessível, de tamanho bancário para câmaras industriais. Destaques técnicos: Intervalo de temperatura: -55°C a +150°C Velocidade da rampa: ± 30°C/min(ajustável) Controle:Programável para PC através do LabVIEW/API Impressão: 30 cm x 25 cm(cabe em espaços de laboratório apertados) Reduzir o tempo de desenvolvimento e os custos hoje Pára de desperdiçar energia e tempo em testes ambientais.Concentre-se no chip, não na câmara.
Ver Mais
Último caso da empresa sobre Câmara de Alta Temperatura para Queima de Módulos de Memória
Câmara de Alta Temperatura para Queima de Módulos de Memória

2025-09-15

.gtr-container-x7y2z9 { font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif; color: #333; line-height: 1.6; padding: 15px; max-width: 100%; box-sizing: border-box; border: none; } .gtr-container-x7y2z9 .gtr-section-title { font-size: 18px; font-weight: bold; color: #0056b3; margin-top: 25px; margin-bottom: 15px; text-align: left; } .gtr-container-x7y2z9 p { font-size: 14px; margin-bottom: 15px; text-align: left !important; word-break: normal; overflow-wrap: normal; } .gtr-container-x7y2z9 strong { color: #0056b3; } .gtr-container-x7y2z9 ul { list-style: none !important; margin: 0 !important; padding: 0 !important; margin-bottom: 15px; } .gtr-container-x7y2z9 ul li { position: relative; padding-left: 25px; margin-bottom: 10px; font-size: 14px; text-align: left; } .gtr-container-x7y2z9 ul li::before { content: "•"; position: absolute; left: 0; top: 0; color: #0056b3; font-size: 16px; line-height: 1.6; } @media (min-width: 768px) { .gtr-container-x7y2z9 { padding: 25px 50px; max-width: 960px; margin: 0 auto; } .gtr-container-x7y2z9 .gtr-section-title { font-size: 20px; margin-top: 35px; margin-bottom: 20px; } .gtr-container-x7y2z9 p { margin-bottom: 20px; } .gtr-container-x7y2z9 ul li { margin-bottom: 12px; } } Como os módulos de memória são amplamente utilizados em servidores, centros de dados e sistemas industriais, é fundamental garantir a sua fiabilidade a longo prazo em condições de temperatura elevada.Os fornos tradicionais de câmara inteira podem ser carosPara responder a este desafio, a SIREDA desenvolveu um sistema de controlo de tensão térmica que permite a obtenção de um nível de tensão térmica mais elevado, que consome muito espaço e é ineficiente quando apenas é necessário um esforço térmico localizado.Câmara de alta temperatura sob medida (capuz térmico) concebidos especificamente para ensaios localizados de queima de módulos de memória. O cliente precisava de uma solução que pudesse: Fornecer umambiente de alta temperatura localizadopara os módulos de memória durante a instalação. Operar num intervalo de temperatura detemperatura ambiente a 85°C. - Não.com comando remoto e automáticoatravés do software do PC host. Entregacondições térmicas estáveis e uniformessem afectar os componentes circundantes. A Sireda concebeu e fabricou umCâmara de alta temperatura (capô térmico)que envolve directamente a área do módulo de memória, criando um micro-ambiente controlado para testes de "burn-in".A câmara integra elementos de aquecimento de precisão e sensores para manter níveis precisos de temperatura. O sistema está totalmente integrado com o software do PC host, permitindo que os operadores programem perfis de temperatura, automatizem os ciclos de teste e monitorem os dados de teste em tempo real.Isto garante a consistência e a eficiência no processo de instalação. Resultados e benefícios Ambiente de ensaio controlado:Condições de temperatura estáveis e repetíveis até 85°C. Aquecimento localizado:Consumo energético reduzido em comparação com os fornos de grande porte. Automatização:O controle do PC host permite uma operação sem supervisão e um maior rendimento. Teste de fiabilidade melhorado:Aumentar a capacidade de identificar falhas no início da vida e validar a durabilidade do produto. Conclusão Através do desenvolvimento da câmara de alta temperatura, a [Nome da empresa] forneceu ao cliente uma ferramenta rentável e eficiente paraEnsaios de instalação e fiabilidade do módulo de memóriaEste caso destaca a nossa capacidade de entregarSoluções de ensaio personalizadas específicas da aplicaçãoque apoiam os clientes no cumprimento dos seus objectivos de qualidade dos produtos.
Ver Mais

Sireda Technology Co., Ltd.
Distribuição do mercado
map 30% 40% 22% 8%
map
O QUE DISEM OS CLIENTES
Rayson
A abordagem inovadora da sua equipe para projetar racks de teste multicamadas foi transformadora para nossas operações. Ao otimizar o espaço e possibilitar testes sentados - antes só possíveis em pé - vocês melhoraram significativamente a eficiência do nosso fluxo de trabalho. Uma solução brilhante!
Longsys
Em comparação com os equipamentos de teste do nosso fornecedor anterior, o seu oferece uma vida útil mais longa e um desempenho muito mais estável.Esta fiabilidade reduziu significativamente os nossos custos de manutenção e melhorou a eficiência dos testes.
CXMT
O serviço da sua equipe tem sido excepcional - responsivo, profissional e detalhista. Apesar dos prazos apertados, vocês entregaram as estruturas de teste antes do previsto, sem comprometer a qualidade. Essa confiabilidade fez de vocês um parceiro de longo prazo confiável para as nossas necessidades de produção.
Contacte-nos a qualquer momento!