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China Sireda Technology Co., Ltd.
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Panoramica dell'aziendaSareda Technology Co., Ltd, fondata nel 2010, offre soluzioni di test per semiconduttori.Le nostre offerte principalipresa di prova del dispositivo a semiconduttorePresa invecchiamentopresa bruciataSocket di test RFTest ApparecchioConnettori di provaSupporto FA del dispositivo BGAServizio di ReballPietre miliari e certificazioni chiaveNel 2016 abbiamo ottenuto la certificazione ISO9001.Nel 2017, abbiamo vinto il titolo di "National High-Tech Enterprise".Nel 2021, ci sono ...
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Eventi
Ultime notizie aziendali su Lancia un Socket di Test HAST Avanzato per il Test di Affidabilità dei Semiconduttori
Lancia un Socket di Test HAST Avanzato per il Test di Affidabilità dei Semiconduttori

2025-09-15

.gtr-Container-xyz789 {Font-Family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, Sans-Serif; Colore: #333; Height di linea: 1.6; imbottitura: 15px; Dimensizzazione di scatole: bordo-box; Licromra massima: 100%; Overflow-X: nascosto; . margine-bottom: 1em; Testo-align: sinistra; Colore: #444; } .gtr-Container-xyz789 Strong {font-weight: Bold; Colore: #222; } .GTR-CONTAINER-XYZ789 EM {Font-Style: Italic; Colore: #555; } .gtr-Container-xyz789 .gtr-Title {font-size: 18px; Font-weight: audace; margine-bottom: 1,5em; Colore: #0056B3; / * Un blu forte per la sensazione industriale */ text-align: a sinistra; . Font-weight: audace; margine-top: 2em; margine-bottom: 1em; Colore: #0056B3; Testo-align: sinistra; } .GTR-CONTAINER-XYZ789 UL {Elenco stile: nessuno! IMPORTANTE; Margine: 0! Importante; imbottitura: 0! importante; margine-bottom: 1em! IMPORTANTE; } .GTR-CONTAINER-XYZ789 Ul Li {Posizione: relativo; imbottitura-sinistra: 25px; margine-bottom: 0,5em; Font-size: 14px; Testo-align: sinistra; Colore: #444; } .gtr-Container-xyz789 ul li :: prima del contenuto: "•"; / * Punto proiettile personalizzato */ posizione: assoluto; a sinistra: 0; Top: 0; Colore: #0056B3; / * Blue Bullet */ Font-size: 1.2em; Height di linea: eredità; } .gtr-Container-xyz789 a {color: #007BFF; DECORAZIONE DEL TESTO: Nessuno; } .GTR-CONTAINER-XYZ789 A: Hover {Dectorazione del testo: sottolinea; } @media (Min-Width: 768px) {.gtr-Container-XYZ789 {Padding: 25px; Licromra massima: 800px; / * Vincola larghezza per una migliore leggibilità su grandi schermate */ margine: 0 auto; / * Centro il componente */} .gtr-contener-xyz789 .gtr-title {size font: 22px; . }} Lancia la presa avanzata HAST Test per test di affidabilità dei semiconduttori Shenzhen, 15 settembre, [Sireda Technology Co., Ltd.] Un fornitore leader di soluzioni di test per semiconduttori, ha annunciato oggi il lancio del suo nuovo sviluppatoHAST (Test di stress altamente accelerato), progettato per soddisfare i requisiti impegnativi dei moderni test di affidabilità per i circuiti integrati. La nuova presa di test HAST è progettata per funzionare in condizioni di stress ambientale estremo, consentendo ai clienti di accelerare la qualifica del dispositivo e la verifica dell'affidabilità. In particolare, supporta i test su130 ° C.,85% di umidità relativa (RH)e sottoambienti pressurizzati (in genere 2,3 atm)per durate estese che vanno da96-168 ore. Questa capacità consente ai produttori di semiconduttori e agli istituti di ricerca di valutare la durata del prodotto e garantire la conformità agli standard del settore per le applicazioni ad alta affidabilità, tra cui elettronica automobilistica, aerospaziale ed industriale. "Mentre i dispositivi continuano a ridursi di dimensioni mentre si espandono in funzionalità, garantire che l'affidabilità a lungo termine sia più critica che mai",ha detto [nome esecutivo], [titolo] al [nome dell'azienda]."La nostra presa di prova HAST offre la stabilità, la precisione e la ripetibilità necessarie per rigorosi test di stress, aiutando i clienti ad ridurre il time-to-market mantenendo l'integrità del prodotto." I vantaggi chiave della presa del test HAST includono: Resistenza ad alta temperatura e ad alta umidità. Prestazioni di contatto sicure e stabili in condizioni pressurizzate. Compatibilità con durate di test estese (96-168 ore). Design scalabile adattabile a vari tipi di pacchetto. Con questo lancio, Sireda continua a rafforzare la sua posizione di innovatore nelle soluzioni di test dei semiconduttori, affrontando la crescente domanda di validazione dell'affidabilità in elettronica avanzata. Per ulteriori informazioni sulla presa di prova HAST e altre soluzioni di test dei semiconduttori, visitare www.siire.com.
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Ultime notizie aziendali su Rivoluziona il test dei chip con la nostra nuova stazione di lavoro per cicli termici/di temperatura
Rivoluziona il test dei chip con la nostra nuova stazione di lavoro per cicli termici/di temperatura

2025-09-01

.gtr-container-abc987 { font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif; color: #333; line-height: 1.6; max-width: 800px; margin: 0 auto; padding: 20px; box-sizing: border-box; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-main { font-size: 18px; font-weight: bold; margin-bottom: 1em; text-align: left; color: #0056b3; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-section { font-size: 16px; font-weight: bold; margin-top: 1.5em; margin-bottom: 1em; text-align: left; color: #0056b3; border-bottom: 1px solid #eee; padding-bottom: 5px; } .gtr-container-abc987 p { font-size: 14px; margin: 1em 0; text-align: left; word-break: normal; overflow-wrap: normal; } .gtr-container-abc987 strong { font-weight: bold; } .gtr-container-abc987 em { font-style: italic; } .gtr-container-abc987 ul { list-style: none !important; margin: 1em 0 !important; padding: 0 !important; } .gtr-container-abc987 ul li { position: relative; padding-left: 25px; margin-bottom: 0.5em; font-size: 14px; text-align: left; } .gtr-container-abc987 ul.gtr-list-checkmark li::before { content: '✓'; position: absolute; left: 0; top: 0; color: #28a745; font-weight: bold; font-size: 16px; line-height: 1.6; } .gtr-container-abc987 ul:not(.gtr-list-checkmark) li::before { content: '•'; position: absolute; left: 0; top: 0; color: #0056b3; font-weight: bold; font-size: 16px; line-height: 1.6; } .gtr-container-abc987 img { max-width: 100%; height: auto; display: block; margin: 1em auto; } @media (min-width: 768px) { .gtr-container-abc987 { padding: 30px; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-main { font-size: 22px; margin-bottom: 1.5em; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-section { font-size: 18px; margin-top: 2em; margin-bottom: 1.2em; } } Rivoluzionare la sperimentazione dei chip con la nostra nuova stazione di lavoro per il ciclo termico/temperatura I team di sviluppo dei semiconduttori, incontrate la vostra soluzione di prova di nuova generazione:Stazione di lavoro di ciclo termico/temperatura¥ aCompatta alternativa ad alta velocità alle camere ambientali ingombranti, progettato specificamente per una verifica efficiente dei chip. Perché accontentarsi di test lenti e inefficienti? Le camere termiche tradizionali costringono gli ingegneri a testarePCB interiIn questo caso, il sistema di raffreddamento non è stato utilizzato per il riscaldamento di componenti non critici.Stazione di lavoro di ciclo termico miratacambia il gioco applicando temperature estremesolo al chip sottoposto a prova (DUT)¢accelerare la ricerca e lo sviluppo riducendo i costi. Principali vantaggi rispetto alle camere standard Stresso termico di precisione solo dove ne hai bisogno Opera a:-55°C a +150°CMa condiziona solo il DUT, non l'intero PCB. Elimina il ciclismo termico inutile di connettori, passivi e circuiti di supporto. Rapidi tassi di accelerazione termica 3×5 volte più veloce delle camere convenzionali(il trasferimento termico del gas attivo garantisce una rapida stabilizzazione). Nessun accumulo di geloLa tecnologia dell'aria secca previene la condensazione, consentendo di effettuare prove continue. Risparmio di spazio e ambiente favorevole al laboratorio Si adatta a una scrivania standardNon c'è bisogno di stanze dedicate. Immediata configurazione per la qualificazione a livello di chip. Chi ne trae beneficio? Progettisti di circuiti integrati:Verificare l'affidabilità senza attendere la completa stabilizzazione termica del PCB. Squadre di convalida:Eseguite i test di stress in ore, non giorni. Startups e accademia:Un'alternativa conveniente alle camere industriali. Informazioni tecniche: Intervallo di temperatura: -55°C a +150°C Capacità di accensione: ± 30°C/min(regolabile) Controllo:Programmabile su PC tramite LabVIEW/API Impronta: 30 cm x 25 cm(si adatta in spazi ristretti di laboratorio) Riduzione dei tempi e dei costi di sviluppo oggi Smettila di sprecare energia e tempo per test ambientali a pensione completa.Concentrati sul chip, non sulla camera.
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Ultimo caso aziendale su Camera ad alta temperatura per il burn-in dei moduli di memoria
Camera ad alta temperatura per il burn-in dei moduli di memoria

2025-09-15

.gtr-container-x7y2z9 { font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif; color: #333; line-height: 1.6; padding: 15px; max-width: 100%; box-sizing: border-box; border: none; } .gtr-container-x7y2z9 .gtr-section-title { font-size: 18px; font-weight: bold; color: #0056b3; margin-top: 25px; margin-bottom: 15px; text-align: left; } .gtr-container-x7y2z9 p { font-size: 14px; margin-bottom: 15px; text-align: left !important; word-break: normal; overflow-wrap: normal; } .gtr-container-x7y2z9 strong { color: #0056b3; } .gtr-container-x7y2z9 ul { list-style: none !important; margin: 0 !important; padding: 0 !important; margin-bottom: 15px; } .gtr-container-x7y2z9 ul li { position: relative; padding-left: 25px; margin-bottom: 10px; font-size: 14px; text-align: left; } .gtr-container-x7y2z9 ul li::before { content: "•"; position: absolute; left: 0; top: 0; color: #0056b3; font-size: 16px; line-height: 1.6; } @media (min-width: 768px) { .gtr-container-x7y2z9 { padding: 25px 50px; max-width: 960px; margin: 0 auto; } .gtr-container-x7y2z9 .gtr-section-title { font-size: 20px; margin-top: 35px; margin-bottom: 20px; } .gtr-container-x7y2z9 p { margin-bottom: 20px; } .gtr-container-x7y2z9 ul li { margin-bottom: 12px; } } Poiché i moduli di memoria sono ampiamente utilizzati in server, data center e sistemi industriali, garantire la loro affidabilità a lungo termine in condizioni di temperatura elevata è fondamentale. I forni a camera completa tradizionali possono essere costosi, ingombranti e inefficienti quando è richiesto solo stress termico localizzato. Per affrontare questa sfida, SIREDA ha sviluppato una camera ad alta temperatura personalizzata (cappuccio termico) progettata specificamente per i test di burn-in localizzati dei moduli di memoria. Il cliente aveva bisogno di una soluzione che potesse: Fornire un ambiente ad alta temperatura localizzatoper i moduli di memoria durante il burn-in. Operare all'interno di un intervallo di temperatura da temperatura ambiente a 85°C. Essere controllato da remoto e automaticamentetramite software per PC host. Fornire condizioni termiche stabili e uniformisenza influire sui componenti circostanti. Sireda ha progettato e prodotto una camera ad alta temperatura (cappuccio termico)che racchiude direttamente l'area del modulo di memoria, creando un micro-ambiente controllato per i test di burn-in. La camera integra elementi riscaldanti e sensori di precisione per mantenere accurati livelli di temperatura. Il sistema è completamente integrato con il software per PC host, consentendo agli operatori di programmare profili di temperatura, automatizzare i cicli di test e monitorare i dati dei test in tempo reale. Ciò garantisce sia la coerenza che l'efficienza nel processo di burn-in. Risultati e vantaggi Ambiente di test controllato:Condizioni di temperatura stabili e ripetibili fino a 85°C. Riscaldamento localizzato:Consumo energetico ridotto rispetto ai forni di dimensioni standard. Automazione:Il controllo tramite PC host consente il funzionamento senza supervisione e una maggiore produttività. Test di affidabilità migliorati:Maggiore capacità di identificare i guasti precoci e convalidare la durata del prodotto. Conclusione Attraverso lo sviluppo della camera ad alta temperatura, [Nome dell'azienda] ha fornito al cliente uno strumento economico ed efficiente per il burn-in e i test di affidabilità dei moduli di memoria. Questo caso evidenzia la nostra capacità di fornire soluzioni di test personalizzate e specifiche per l'applicazioneche supportano i clienti nel raggiungimento dei loro obiettivi di qualità del prodotto.
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Distribuzione del mercato
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COSA DICONO I CLIENTI
Rayson
L'approccio innovativo del vostro team alla progettazione di rack di test multistrato è stato trasformativo per le nostre operazioni. Ottimizzando lo spazio e consentendo i test da seduti - in precedenza possibili solo in piedi - avete migliorato significativamente l'efficienza del nostro flusso di lavoro. Una soluzione brillante!
Longsys
Rispetto ai dispositivi di prova del nostro fornitore precedente, i vostri offrono una durata di vita più lunga e prestazioni molto più stabili.Questa affidabilità ha ridotto significativamente i nostri costi di manutenzione e migliorato l'efficienza dei test.
CXMT
Il servizio del vostro team è stato eccezionale: reattivo, professionale e attento ai dettagli. Nonostante le scadenze strette, avete consegnato i dispositivi di prova in anticipo rispetto al previsto senza compromettere la qualità. Questa affidabilità vi ha reso un partner fidato a lungo termine per le nostre esigenze di produzione.
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