
Lancia un Socket di Test HAST Avanzato per il Test di Affidabilità dei Semiconduttori
2025-09-15
.gtr-Container-xyz789 {Font-Family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, Sans-Serif; Colore: #333; Height di linea: 1.6; imbottitura: 15px; Dimensizzazione di scatole: bordo-box; Licromra massima: 100%; Overflow-X: nascosto; . margine-bottom: 1em; Testo-align: sinistra; Colore: #444; } .gtr-Container-xyz789 Strong {font-weight: Bold; Colore: #222; } .GTR-CONTAINER-XYZ789 EM {Font-Style: Italic; Colore: #555; } .gtr-Container-xyz789 .gtr-Title {font-size: 18px; Font-weight: audace; margine-bottom: 1,5em; Colore: #0056B3; / * Un blu forte per la sensazione industriale */ text-align: a sinistra; . Font-weight: audace; margine-top: 2em; margine-bottom: 1em; Colore: #0056B3; Testo-align: sinistra; } .GTR-CONTAINER-XYZ789 UL {Elenco stile: nessuno! IMPORTANTE; Margine: 0! Importante; imbottitura: 0! importante; margine-bottom: 1em! IMPORTANTE; } .GTR-CONTAINER-XYZ789 Ul Li {Posizione: relativo; imbottitura-sinistra: 25px; margine-bottom: 0,5em; Font-size: 14px; Testo-align: sinistra; Colore: #444; } .gtr-Container-xyz789 ul li :: prima del contenuto: "•"; / * Punto proiettile personalizzato */ posizione: assoluto; a sinistra: 0; Top: 0; Colore: #0056B3; / * Blue Bullet */ Font-size: 1.2em; Height di linea: eredità; } .gtr-Container-xyz789 a {color: #007BFF; DECORAZIONE DEL TESTO: Nessuno; } .GTR-CONTAINER-XYZ789 A: Hover {Dectorazione del testo: sottolinea; } @media (Min-Width: 768px) {.gtr-Container-XYZ789 {Padding: 25px; Licromra massima: 800px; / * Vincola larghezza per una migliore leggibilità su grandi schermate */ margine: 0 auto; / * Centro il componente */} .gtr-contener-xyz789 .gtr-title {size font: 22px; . }}
Lancia la presa avanzata HAST Test per test di affidabilità dei semiconduttori
Shenzhen, 15 settembre, [Sireda Technology Co., Ltd.] Un fornitore leader di soluzioni di test per semiconduttori, ha annunciato oggi il lancio del suo nuovo sviluppatoHAST (Test di stress altamente accelerato), progettato per soddisfare i requisiti impegnativi dei moderni test di affidabilità per i circuiti integrati.
La nuova presa di test HAST è progettata per funzionare in condizioni di stress ambientale estremo, consentendo ai clienti di accelerare la qualifica del dispositivo e la verifica dell'affidabilità. In particolare, supporta i test su130 ° C.,85% di umidità relativa (RH)e sottoambienti pressurizzati (in genere 2,3 atm)per durate estese che vanno da96-168 ore.
Questa capacità consente ai produttori di semiconduttori e agli istituti di ricerca di valutare la durata del prodotto e garantire la conformità agli standard del settore per le applicazioni ad alta affidabilità, tra cui elettronica automobilistica, aerospaziale ed industriale.
"Mentre i dispositivi continuano a ridursi di dimensioni mentre si espandono in funzionalità, garantire che l'affidabilità a lungo termine sia più critica che mai",ha detto [nome esecutivo], [titolo] al [nome dell'azienda]."La nostra presa di prova HAST offre la stabilità, la precisione e la ripetibilità necessarie per rigorosi test di stress, aiutando i clienti ad ridurre il time-to-market mantenendo l'integrità del prodotto."
I vantaggi chiave della presa del test HAST includono:
Resistenza ad alta temperatura e ad alta umidità.
Prestazioni di contatto sicure e stabili in condizioni pressurizzate.
Compatibilità con durate di test estese (96-168 ore).
Design scalabile adattabile a vari tipi di pacchetto.
Con questo lancio, Sireda continua a rafforzare la sua posizione di innovatore nelle soluzioni di test dei semiconduttori, affrontando la crescente domanda di validazione dell'affidabilità in elettronica avanzata.
Per ulteriori informazioni sulla presa di prova HAST e altre soluzioni di test dei semiconduttori, visitare www.siire.com.
Visualizza altro

Rivoluziona il test dei chip con la nostra nuova stazione di lavoro per cicli termici/di temperatura
2025-09-01
.gtr-container-abc987 {
font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif;
color: #333;
line-height: 1.6;
max-width: 800px;
margin: 0 auto;
padding: 20px;
box-sizing: border-box;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-main {
font-size: 18px;
font-weight: bold;
margin-bottom: 1em;
text-align: left;
color: #0056b3;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-section {
font-size: 16px;
font-weight: bold;
margin-top: 1.5em;
margin-bottom: 1em;
text-align: left;
color: #0056b3;
border-bottom: 1px solid #eee;
padding-bottom: 5px;
}
.gtr-container-abc987 p {
font-size: 14px;
margin: 1em 0;
text-align: left;
word-break: normal;
overflow-wrap: normal;
}
.gtr-container-abc987 strong {
font-weight: bold;
}
.gtr-container-abc987 em {
font-style: italic;
}
.gtr-container-abc987 ul {
list-style: none !important;
margin: 1em 0 !important;
padding: 0 !important;
}
.gtr-container-abc987 ul li {
position: relative;
padding-left: 25px;
margin-bottom: 0.5em;
font-size: 14px;
text-align: left;
}
.gtr-container-abc987 ul.gtr-list-checkmark li::before {
content: '✓';
position: absolute;
left: 0;
top: 0;
color: #28a745;
font-weight: bold;
font-size: 16px;
line-height: 1.6;
}
.gtr-container-abc987 ul:not(.gtr-list-checkmark) li::before {
content: '•';
position: absolute;
left: 0;
top: 0;
color: #0056b3;
font-weight: bold;
font-size: 16px;
line-height: 1.6;
}
.gtr-container-abc987 img {
max-width: 100%;
height: auto;
display: block;
margin: 1em auto;
}
@media (min-width: 768px) {
.gtr-container-abc987 {
padding: 30px;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-main {
font-size: 22px;
margin-bottom: 1.5em;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-section {
font-size: 18px;
margin-top: 2em;
margin-bottom: 1.2em;
}
}
Rivoluzionare la sperimentazione dei chip con la nostra nuova stazione di lavoro per il ciclo termico/temperatura
I team di sviluppo dei semiconduttori, incontrate la vostra soluzione di prova di nuova generazione:Stazione di lavoro di ciclo termico/temperatura¥ aCompatta alternativa ad alta velocità alle camere ambientali ingombranti, progettato specificamente per una verifica efficiente dei chip.
Perché accontentarsi di test lenti e inefficienti?
Le camere termiche tradizionali costringono gli ingegneri a testarePCB interiIn questo caso, il sistema di raffreddamento non è stato utilizzato per il riscaldamento di componenti non critici.Stazione di lavoro di ciclo termico miratacambia il gioco applicando temperature estremesolo al chip sottoposto a prova (DUT)¢accelerare la ricerca e lo sviluppo riducendo i costi.
Principali vantaggi rispetto alle camere standard
Stresso termico di precisione solo dove ne hai bisogno
Opera a:-55°C a +150°CMa condiziona solo il DUT, non l'intero PCB.
Elimina il ciclismo termico inutile di connettori, passivi e circuiti di supporto.
Rapidi tassi di accelerazione termica
3×5 volte più veloce delle camere convenzionali(il trasferimento termico del gas attivo garantisce una rapida stabilizzazione).
Nessun accumulo di geloLa tecnologia dell'aria secca previene la condensazione, consentendo di effettuare prove continue.
Risparmio di spazio e ambiente favorevole al laboratorio
Si adatta a una scrivania standardNon c'è bisogno di stanze dedicate.
Immediata configurazione per la qualificazione a livello di chip.
Chi ne trae beneficio?
Progettisti di circuiti integrati:Verificare l'affidabilità senza attendere la completa stabilizzazione termica del PCB.
Squadre di convalida:Eseguite i test di stress in ore, non giorni.
Startups e accademia:Un'alternativa conveniente alle camere industriali.
Informazioni tecniche:
Intervallo di temperatura: -55°C a +150°C
Capacità di accensione: ± 30°C/min(regolabile)
Controllo:Programmabile su PC tramite LabVIEW/API
Impronta: 30 cm x 25 cm(si adatta in spazi ristretti di laboratorio)
Riduzione dei tempi e dei costi di sviluppo oggi
Smettila di sprecare energia e tempo per test ambientali a pensione completa.Concentrati sul chip, non sulla camera.
Visualizza altro