
Lance le socket de test HAST avancé pour les tests de fiabilité des semi-conducteurs
2025-09-15
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Lancement d'une prise de test HAST avancée pour les tests de fiabilité des semi-conducteurs
SHENZHEN, le 15 septembre, [Sireda Technology Co., Ltd.] un fournisseur de premier plan de solutions de test de semi-conducteurs, a annoncé aujourd'hui le lancement de son nouveauRéseau HAST (test de contrainte très accéléré), conçus pour répondre aux exigences exigeantes des essais modernes de fiabilité des circuits intégrés.
La nouvelle prise de test HAST est conçue pour fonctionner dans des conditions de stress environnementaux extrêmes, permettant aux clients d'accélérer la qualification des appareils et la vérification de leur fiabilité.Il prend en charge les tests à130°C,85% d'humidité relative (RH), et sousenvironnements sous pression (généralement 2,3 atm)pour des durées allant de96 à 168 heures.
Cette capacité permet aux fabricants de semi-conducteurs et aux instituts de recherche d'évaluer la durabilité des produits et de garantir la conformité avec les normes de l'industrie pour les applications à haute fiabilité,y compris automobile, aérospatiale et électronique industrielle.
"Comme les appareils continuent de se rétrécir en taille tout en augmentant leur fonctionnalité, assurer une fiabilité à long terme est plus critique que jamais".a déclaré [nom exécutif], [titre] à [nom de la société]."Notre prise de test HAST offre la stabilité, la précision et la répétabilité requises pour les tests de résistance rigoureux, aidant les clients à raccourcir le temps de mise sur le marché tout en maintenant l'intégrité du produit".
Les principaux avantages de la prise de test HAST sont les suivants:
Résistance aux températures élevées et à l'humidité.
Des performances de contact sûres et stables dans des conditions de pression.
Compatibilité avec des durées d'essai plus longues (96 à 168 heures).
Conception évolutive, adaptable à différents types de paquets.
Avec ce lancement, Sireda continue de renforcer sa position d'innovateur dans les solutions de test de semi-conducteurs, répondant à la demande croissante de validation de fiabilité dans l'électronique avancée.
Pour plus d'informations sur la prise de test HAST et d'autres solutions de test de semi-conducteurs, veuillez visiter www.sireda.com.
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Révolutionner les tests de puces avec notre nouvelle station de travail de cycle thermique
2025-09-01
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Révolutionnez les tests de puces avec notre nouvelle station de travail de cyclage thermique/température
Équipes de développement de semi-conducteurs, voici votre solution de test de nouvelle génération : la Station de travail de cyclage thermique/température – une alternative compacte et à grande vitesse aux chambres environnementales encombrantes, conçue spécifiquement pour une vérification efficace des puces.
Pourquoi se contenter de tests lents et inefficaces ?
Les chambres thermiques traditionnelles obligent les ingénieurs à tester des circuits imprimés entiers dans des plages de températures industrielles (-55 °C à 150 °C), gaspillant du temps et de l'énergie à refroidir/chauffer des composants non critiques. Notre Station de travail de cyclage thermique ciblée change la donne en appliquant des températures extrêmes uniquement à la puce en test (DUT)—accélérant la R&D tout en réduisant les coûts.
Principaux avantages par rapport aux chambres standard
Contrainte thermique de précision uniquement là où vous en avez besoin
Fonctionne de -55 °C à +150 °C mais ne conditionne que le DUT—pas l'ensemble du circuit imprimé.
Élimine le cyclage thermique inutile des connecteurs, des composants passifs et des circuits de support.
Vitesses de montée en température fulgurantes
3 à 5 fois plus rapides que les chambres conventionnelles (le transfert thermique par gaz actif assure une stabilisation rapide).
Pas d'accumulation de givre—la technologie à air sec empêche la condensation, permettant des tests continus.
Gain de place et convivial pour le laboratoire
Tient sur un bureau standard—pas besoin de salles dédiées aux chambres.
Configuration instantanée pour la qualification au niveau de la puce à la demande.
Qui en bénéficie ?
Concepteurs de circuits intégrés : Vérifiez la fiabilité sans attendre la stabilisation thermique complète du circuit imprimé.
Équipes de validation : Effectuez des tests de contrainte en quelques heures, et non en quelques jours.
Startups et universités : Alternative abordable, de la taille d'un banc d'essai, aux chambres industrielles.
Points forts techniques :
Plage de températures : -55 °C à +150 °C
Vitesse de montée en température : ±30 °C/min (réglable)
Contrôle : Programmable par PC via LabVIEW/API
Encombrement : 30 cm x 25 cm (s'intègre dans les espaces de laboratoire restreints)
Réduisez le temps et les coûts de développement dès aujourd'hui
Arrêtez de gaspiller de l'énergie et du temps sur les tests environnementaux complets des cartes. Concentrez-vous sur la puce—pas sur la chambre.
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