Start des fortschrittlichen HAST-Testsockels für Zuverlässigkeitstests von Halbleitern
2025-09-15
.gtr-container-xyz789 {Schriftfamilie: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, Sans-Serif; Farbe: #333; Zeilenhöhe: 1.6; Polsterung: 15px; Kastengrößen: Border-Box; Max-Breite: 100%; Überlauf-X: versteckt; } .gtr-container-xyz789 p {Schriftgröße: 14px; Randboot: 1EM; Text-Align: links; Farbe: #444; } .gtr-container-xyz789 Strong {Schriftgewicht: BOLD; Farbe: #222; } .gtr-container-xyz789 em {font-style: italic; Farbe: #555; } .gtr-container-xyz789 .gtr-title {font-size: 18px; Schriftgewicht: fett; Randboden: 1,5EM; Farbe: #0056B3; / * Ein starkes Blau für industrielles Gefühl */ text-align: links; } .gtr-container-xyz789 .gtr-section-Heading {Schriftgröße: 16px; Schriftgewicht: fett; Rand: 2EM; Randboot: 1EM; Farbe: #0056B3; Text-Align: links; } .gtr-container-xyz789 ul {Listenstil: Keine! Wichtig; Rand: 0! Wichtig; Polsterung: 0! Wichtig; Randboot: 1EM! Wichtig; } .gtr-container-xyz789 ul li {Position: relativ; Padding-Links: 25px; Margin-Bottom: 0,5EM; Schriftgröße: 14px; Text-Align: links; Farbe: #444; } .gtr-container-xyz789 ul li :: vor {Inhalt: "•"; / * Benutzerdefinierter Bullet Point */ Position: absolut; links: 0; Top: 0; Farbe: #0056B3; / * Blue Bullet */ Schriftgröße: 1.2EM; Linienhöhe: Erbe; } .gtr-container-xyz789 a {color: #007bff; Textdekoration: Keine; } .gtr-container-xyz789 a: hover {textdekoration: unterstreich; } @media (min-Width: 768px) {.gtr-container-xyz789 {padding: 25px; Max-Breite: 800px; / * Einschränkung der Breite für eine bessere Lesbarkeit auf großen Bildschirmen */ Margin: 0 Auto; / * Zentrieren Sie die Komponente */} .gtr-container-xyz789 .gtr-title {font-size: 22px; } .gtr-container-xyz789 .gtr-section-Heading {Schriftgröße: 18px; }}
Start
Shenzhen, 15. September, [SIRDA Technology Co., Ltd.], ein führender Anbieter von Halbleiter -Test Solutions, gab heute die Einführung seiner neu entwickelten Anbieter bekanntHast (hoch beschleunigter Stresstest) Sockel, entwickelt, um die anspruchsvollen Anforderungen moderner Zuverlässigkeitstests für integrierte Schaltungen zu erfüllen.
Die neue HAUT -Testbuchse ist so konstruiert, dass sie unter extremen Umweltbelastungsbedingungen durchgeführt werden kann, sodass Kunden die Qualifikation und Zuverlässigkeit der Geräte beschleunigen können. Insbesondere unterstützt es das Testen bei130 ° C.Anwesend85% relative Luftfeuchtigkeit (RH)und unterDruckumgebungen (typischerweise 2,3 atm)für verlängerte Dauer von reichen von96 bis 168 Stunden.
Diese Fähigkeit ermöglicht es Halbleiterherstellern und Forschungsinstitutionen, die Haltbarkeit der Produkte zu bewerten und die Einhaltung der Branchenstandards für hochzuverständliche Anwendungen wie Automobile, Luft- und Raumfahrt und industrielle Elektronik sicherzustellen.
"Wenn Geräte weiterhin die Größe schrumpfen und gleichzeitig die Funktionalität erweitern, ist die Gewährleistung der langfristigen Zuverlässigkeit kritischer als je zuvor."sagte [Executive Name], [Titel] bei [Firmenname]."Unser HAF-Test-Socket liefert die Stabilität, Präzision und Wiederholbarkeit für strenge Stresstests und hilft den Kunden dabei, die Zeit auf dem Markt zu verkürzen und gleichzeitig die Produktintegrität aufrechtzuerhalten."
Zu den wichtigsten Vorteilen des HAF -Testbuchse gehören:
Hochtemperatur- und hohe Luftwechseldauer.
Sichere und stabile Kontaktleistung unter Druckbedingungen.
Kompatibilität mit erweiterten Testdauern (96–168 Stunden).
Skalierbares Design, das an verschiedene Pakettypen anpassbar ist.
Mit dieser Start stärkt SIRDA seine Position als Innovator in Halbleiter -Testlösungen weiterhin und befasst sich mit der zunehmenden Nachfrage nach Zuverlässigkeitsvalidierung in fortschrittlicher Elektronik.
Weitere Informationen zu den HAUT -Test -Socket und anderen Semiconductor -Testlösungen finden Sie unter www.sieda.com.
Ansicht mehr
Wir revolutionieren die Chip-Prüfung mit unserer neuen Temperatur-/Wärmezyklus-Arbeitsstation
2025-09-01
.gtr-container-abc987 {
font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif;
color: #333;
line-height: 1.6;
max-width: 800px;
margin: 0 auto;
padding: 20px;
box-sizing: border-box;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-main {
font-size: 18px;
font-weight: bold;
margin-bottom: 1em;
text-align: left;
color: #0056b3;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-section {
font-size: 16px;
font-weight: bold;
margin-top: 1.5em;
margin-bottom: 1em;
text-align: left;
color: #0056b3;
border-bottom: 1px solid #eee;
padding-bottom: 5px;
}
.gtr-container-abc987 p {
font-size: 14px;
margin: 1em 0;
text-align: left;
word-break: normal;
overflow-wrap: normal;
}
.gtr-container-abc987 strong {
font-weight: bold;
}
.gtr-container-abc987 em {
font-style: italic;
}
.gtr-container-abc987 ul {
list-style: none !important;
margin: 1em 0 !important;
padding: 0 !important;
}
.gtr-container-abc987 ul li {
position: relative;
padding-left: 25px;
margin-bottom: 0.5em;
font-size: 14px;
text-align: left;
}
.gtr-container-abc987 ul.gtr-list-checkmark li::before {
content: '✓';
position: absolute;
left: 0;
top: 0;
color: #28a745;
font-weight: bold;
font-size: 16px;
line-height: 1.6;
}
.gtr-container-abc987 ul:not(.gtr-list-checkmark) li::before {
content: '•';
position: absolute;
left: 0;
top: 0;
color: #0056b3;
font-weight: bold;
font-size: 16px;
line-height: 1.6;
}
.gtr-container-abc987 img {
max-width: 100%;
height: auto;
display: block;
margin: 1em auto;
}
@media (min-width: 768px) {
.gtr-container-abc987 {
padding: 30px;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-main {
font-size: 22px;
margin-bottom: 1.5em;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-section {
font-size: 18px;
margin-top: 2em;
margin-bottom: 1.2em;
}
}
Wir revolutionieren die Chip-Prüfung mit unserer neuen Temperatur-/Wärmezyklus-Arbeitsstation
Halbleiterentwicklungsteams, treffen Sie Ihre Testlösung der nächsten Generation:Temperatur-/Wärmezyklusarbeitsplatz¥ aKompaktes, schnelles Alternativ zu sperrigen Umgebungskammern, speziell für eine effiziente Chip-Verifizierung konzipiert.
Warum sich mit langsamen, ineffizienten Tests begnügen?
Traditionelle Wärmekammern zwingt Ingenieure zu testenganze PCBsWir haben eine Reihe von Lösungen entwickelt, mit denen wir dieGezielte Arbeitsstationen für den WärmezyklusDas Spiel verändert sich durch extreme Temperaturen.nur auf den zu prüfenden Chip (DUT)Forschung und Entwicklung beschleunigen und gleichzeitig die Kosten senken.
Hauptvorteile gegenüber Standardkammern
Präzisions-Wärmebelastung nur dort, wo sie nötig ist
Tätig am-55°C bis +150°CEs ist jedoch nur die DUT bedingt, nicht das gesamte PCB.
Eliminiert unnötigen thermischen Kreislauf von Verbindungen, Passiven und Stützkreisläufen.
Schnelle Wärmerampenraten
3×5 mal schneller als herkömmliche Kammern(Aktive Gaswärmeübertragung sorgt für eine schnelle Stabilisierung).
Keine FrostansammlungDürlufttechnik verhindert Kondensation und ermöglicht kontinuierliche Prüfungen.
Platz- und Laborfreundlichkeit
Passt auf einen Standardschreibtisch- Keine Notwendigkeit für eigene Kammerräume.
Sofortige Einrichtung für On-Demand-Chip-Qualifikation.
Wer profitiert davon?
IC-Designer:Überprüfen Sie die Zuverlässigkeit, ohne auf die vollständige thermische Stabilisierung der PCB zu warten.
Validierungsteams:Stresstests in Stunden, nicht in Tagen.
Startups und Wissenschaft:Eine erschwingliche, auf der Bank befindliche Alternative zu Industriezimmern.
Technische Merkmale:
Temperaturbereich: -55°C bis +150°C
Rampenfrequenz ± 30°C/min(verstellbar)
Steuerung:PC-programmierbar über LabVIEW/API
Fußabdruck: 30cm x 25cm(passt in engen Laborräumen)
Reduzierung der Entwicklungszeit und -kosten heute
Hör auf, Energie und Zeit für umweltbezogene Tests zu verschwenden.Konzentrieren Sie sich auf den Chip, nicht auf die Kammer.
Ansicht mehr
